摄像头屏蔽器时间分辨发光衰减测量

    本发明涉及用于进行摄像头内部检查的成像设备，例如喉镜。喉镜在刀片内部的通道内设置有照相机元件。商业硅衬底上的GeSn涂层在红外探测器和激光器中的应用越来越受到关注。这些材料的表征对于其质量评估和描述用于商业化的器件性能至关重要。时间分辨光致发光是非接触、时间分辨表征GeSn干扰器光电财产的有效方法。

    为此，在这项工作中，我们开发了一种监控红外条纹相机附件，该附件基于红外光致发光的宽带上转换，使用强大的纳秒1064nm脉冲。该附件实现了皮秒的时间分辨率，受到激光脉冲持续时间、抖动和条纹相机的时间分辨率的限制。获得了1100–2400 nm区间的时间分辨光致发光的光谱范围，优于商用红外InGaAs条纹相机的光谱屏蔽器范围。

    将所开发的监控摄像头装置应用于GeSn中与激发相关的时间分辨光致发光衰减测量，并与具有光学延迟皮秒栅极脉冲的传统上转换技术进行比较。新的设置提供了用于分析的2D光谱-时间图像。根据激发脉冲能量和光谱发射波长，在GeSn层中获得了30–80 ps范围内的光致发光衰减时间。载流子热化被观察为光致发光光谱随时间干扰屏蔽器的红移。